键的测绘方式包括

键的测绘方式主要包括以下几种：

X射线衍射：

通过射向晶体的X射线产生的衍射图案，可以确定晶体中原子之间的距离和角度，从而确定化学键的性质。

红外光谱：

不同类型的化学键具有不同的振动频率，通过测量物质在红外光谱范围内的吸收峰，可以确定化学键的类型。

核磁共振（NMR）：

通过测量分子中的原子核在外加磁场下的能级分裂和频率，可以确定化学键的类型和连接方式。

质谱法：

将物质分子化为离子，并根据质荷比测量分子中不同原子的相对丰度，可以确定化学键的类型和分子结构。

光电子能谱（XPS和UPS）：

将物质暴露在光束下，测量材料中不同化学键的电子能级，从而确定化学键的性质和组成。

紫外光谱：

用于鉴别一个有机物是否含有共轭体系或芳香结构。

核磁共振氢谱：

用于测定有机物分子中氢原子的种类和数目。

这些方法可以单独使用，也可以综合运用，以获得更全面的键的信息。建议根据具体需求和实验条件选择合适的测绘方法。