测绘平面怎么测

测绘平面的方法有多种，以下是一些常用的方法：

使用一套可随身携带的塞尺进行粗测，适用于零件边缘的平面度检测。这种方法精度不高，效率较低，结果不够全面。

利用光学平晶产生的稳定干涉条纹来判断被测表面的平整度，适用于测量光洁的小平面，如千分头测量面、量规的工作面、光学透镜等。这种方法精度高，但主要用于特殊表面的测量。

将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。这种方法适用于需要较高精度的平面度测量。

使用三坐标仪测量被测样品上各测量点相对于测量基准的数据，经过数据处理评定出平面度误差。这种方法精度高，适合各种复杂平面的测量，但成本较高。

用液平面作为测量基准面，通过传感器进行测量，适合测量连续或不连续的大平面，但测量时间长，且对温度敏感。

利用水平仪测量被测平面是否水平，适用于快速检查平面度，但精度较低。

利用卫星图进行辅助绘图，可以省去大量时间和精力，但精度可能受限。

使用全站仪测量角度和距离关系，自动生成特征点三维坐标，并绘制总平面图。这种方法适用于各种地形和复杂平面。

通过接收固定站差分信号确定移动站三维坐标，并绘制总平面图。这种方法适用于开阔区域和需要高精度定位的场合。

利用无人机航片生成正射影像DOM，通过影像辅助特征点的测量和总平面图的绘制。这种方法可以提高测量效率和精度，特别适用于难以直接到达的区域。

在选择测绘方法时，应根据实际需求和测量精度要求来选择合适的方法。对于一般工程测量，可以使用全站仪或GNSS-RTK测图；对于高精度测量，可以选择激光平面干涉仪或三坐标测量仪。