如何收集测绘基准

收集测绘基准的方法主要有以下几种：

在三次元测量前，选择一个已被证实正确的物理特征作为已知基准。将待测件与这个基准进行比对，从而得出准确的测量结果。

基准球具有高直径精度和均匀表面，易于确定被测物体的位置。首先在被测物体上确定一个接触点，然后将基准球与接触点接触，利用三次元测量仪器进行测量，以找到被测物体的基准点。

在主视图中确定长度基准和高度基准，在左视图或俯视图中确定宽度基准。当标注尺寸个数多时，标注尺寸个数多的为基准；当标注尺寸个数相同时，精度高的为基准。对于非对称图形，通常尺寸从哪个方向引出，那个方向就是尺寸基准。

设计人员在画图时要参考“设计基准”和“工艺基准”，以确定主要尺寸的基准。回转体应以轴线作为主要尺寸的基准。

例如，在使用中海达GPS V9时，先架好基准站，用手簿设置成基准站，然后用移动站采集两个已知点并进行平滑处理。再反测已知点，确保误差在范围内。之后，将移动站拿到需要测量的点，整平对中杆，用手簿采集数据，依次慢慢采集。

这些方法可以帮助你收集和确定测绘基准，从而提高测量结果的准确性。根据具体测量需求和场景，可以选择合适的方法进行操作。